| 专利名 | 一种ZnO类热控涂层光学特性电子辐照退化的预示方法 |
| 行业分类: | 化工冶金 |
| 简介: | 本发明提出一种ZnO类热控涂层光学特性电子辐照退化的预示方法，属于空间环境工程领域。本发明利用现有的ZnO类热控涂层光学特性在电子辐照下的退模型，通过实验得到全光谱漫反射率数据，根据该数据求出对应于每一个电子辐照注量点的吸收率的变化。之后，计算出电子在ZnO热控涂层中的剂量深度分布。然后，求解退化模型中的未知参数，得到针对此种ZnO热控涂层的退化模型。利用求解出的模型对ZnO热控涂层光学特性在电子辐照下的退化进行预示。本发明方法大大减轻了ZnO类热控涂层电子辐照试验的工作量，对研究ZnO有机白漆光学特性在空间电子辐照下的退化规律及长寿命预示具有重要意义。 |
| 专利号: | 200810078234.2 |
| 申请(专利权)人: | 兰州空间技术物理研究所 |
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| 专利类型: | 发明专利 |
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